Probing electric fi eld distribution of P3HT in ITO/PI/P3HT/Au by using EFISHG measurement

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Probing electric fi eld distribution of P3HT in ITO/PI/P3HT/Au by using EFISHG measurement

著者

和文:	宮沢亮, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.
英文:	Ryo Miyazawa, Dai Taguchi, Takaaki Manaka, Mitsumasa Iwamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2011年9月1日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2011 International conference on solid state devices and materials (SSDM2011)

開催地

和文:
英文:	Aichi, Japan