Characterization of Cu(InGa)Se2 grain boundary properties by electron- and tip-probe methods

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of Cu(InGa)Se2 grain boundary properties by electron- and tip-probe methods

著者

和文:	大西智, 川村昌弘, Naoaki Takano, Daisuke Hashimoto, 山田明, 小長井誠.
英文:	Satoshi Oonishi, Masahiro Kawamura, Naoaki Takano, Daisuke Hashimoto, Akira Yamada, Makoto Konagai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	THIN SOLID FILMS

巻, 号, ページ

Vol. 519 No. 21 SI pp. 7347-7350

出版年月

2011年8月27日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI