English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Reduction of access resistance of InP/InGaAs composite-channel MOSFET with back source electrode
著者
和文:
加藤淳
,
金澤徹
,
池田俊介
,
米内義晴
,
宮本恭幸
.
英文:
Atsushi Kato
,
Toru Kanazawa
,
Shunsuke Ikeda
,
Yosiharu Yonai
,
Yasuyuki Miyamoto
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
IEICE Trans. Electron.
巻, 号, ページ
vol. E95-C no. 5 pp. 904-919
出版年月
2012年5月1日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.1587/transele.E95.C.904
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.