Band alignment of InGaZnO<sub>4</sub>/Si interface by hard x-ray photoelectron spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Band alignment of InGaZnO₄/Si interface by hard x-ray photoelectron spectroscopy

著者

和文:	Kyeongmi Lee, Eiji Ikenaga, Takeharu Sugiyama, Keisuke Kobayashi, Kyeongmi Lee, 野村研二, 柳博, 神谷利夫, Eiji Ikenaga, Takeharu Sugiyama, Keisuke Kobayashi, 細野秀雄.
英文:	Kyeongmi Lee, Eiji Ikenaga, Takeharu Sugiyama, Keisuke Kobayashi, Kyeongmi Lee, Kenji Nomura, Hiroshi Yanagi, Toshio Kamiya, Eiji Ikenaga, Takeharu Sugiyama, Keisuke Kobayashi, Hideo Hosono.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Appl. Phys

巻, 号, ページ

Vol. 112, pp. 033713-1 - 6

出版年月

2012年

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: