Unified Model and Prediction Technique for On-Current Degradation Caused by Drain-Avalanche Hot Carriers in Low-Temperature Poly-Silicon Thin-Film Transistors

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Unified Model and Prediction Technique for On-Current Degradation Caused by Drain-Avalanche Hot Carriers in Low-Temperature Poly-Silicon Thin-Film Transistors

著者

和文:	波多野睦子.
英文:	Mutsuko Hatano.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

2002-2005

出版年月

2007年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Society for Information Display 2007 Int. Symposium

開催地

和文:
英文:	Long Beach