Subthreshold Characteristics of MOS Transistors With CeO(2)/La(2)O(3) Stacked Gate Dielectric

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Subthreshold Characteristics of MOS Transistors With CeO(2)/La(2)O(3) Stacked Gate Dielectric

著者

和文:	H. Wong, Y. B.L, 角嶋邦之, 岩井洋.
英文:	H. Wong, Y. B.L, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS,

巻, 号, ページ

出版年月

2011年8月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

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