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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A New Study on the Degradation Mechanism in Low-Temperature p-Channel Polycrystalline Silicon TFTs Under Dynamic Stress 
著者
和文: 波多野睦子.  
英文: Mutsuko Hatano.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEEE transactions on Electron Devices 
巻, 号, ページ 53        2280-2286
出版年月 2006年 
出版者
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会議名称
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開催地
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