Study of High-k/Ino.53Ga.0.47As interface by Hard X-ray Photoemission Spectroscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Study of High-k/Ino.53Ga.0.47As interface by Hard X-ray Photoemission Spectroscopy

著者

和文:	山下晃司, 沼尻侑也, M. Watanabe, 角嶋邦之, 岩井洋, 野平博司.
英文:	山下晃司, 沼尻侑也, M. Watanabe, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI, Hiroshi Nohira.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 50 No. 10 pp. 10PD02-1-5

出版年月

2011年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: