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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:The effect of remote Coulomb scattering on electron mobility in La2O3 gate stacked MOSFETs 
著者
和文: マイマイティ マイマイティレャアティ, 幸田みゆき, 川那子高暢, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 筒井一生, 片岡 好則, 西山彰, 杉井信之, 名取研二, 服部健雄, 岩井洋.  
英文: マイマイティ マイマイティレャアティ, Miyuki Kouda, Takamasa Kawanago, Kuniyuki KAKUSHIMA, Ahmet Parhat, KAZUO TSUTSUI, 片岡 好則, 西山彰, Nobuyuki Sugii, KENJI NATORI, takeo hattori, HIROSHI IWAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Semiconductor Science and Technology 
巻, 号, ページ Vol. 27    No. 4   
出版年月 2012年3月 
出版者
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会議名称
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開催地
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