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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Application of the maximum-entropy method to the calculation of electron densities of the Si(111) 7×7 surface from x-ray diffraction data 
著者
和文: 坂田修身.  
英文: OSAMI SAKATA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Report RLEMTIT 
巻, 号, ページ     No. 20    pp. 53
出版年月 1995年 
出版者
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会議名称
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開催地
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