Electron microscopy at a sub-50 pm resolution

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electron microscopy at a sub-50 pm resolution

著者

和文:	高柳邦夫, 金秀鉉, Lee Soyeon, 大島義文, 田中崇之, 谷城康眞, 沢田英敬, 細川史生, 富田健, 金山俊克, 近藤行人.
英文:	K. Takayanagi, S. Kim, S. Lee, Y. Oshima, T. Tanaka, Y. Tanishiro, H. Sawada, F. Hosokawa, T. Tomita, T. Kaneyama, Yukihito Kondo.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Electron Microsc.

巻, 号, ページ

Vol. 60 No. suppl 1 pp. S239 - S244

出版年月

2011年8月

出版者

和文:
英文:	Oxford Journals

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI