Quantitative Annular Dark-field STEM Images of a Silicon Crystal Using a Large-angle Convergent Electron Probe with a 300-kV Cold Field-emission Gun

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Quantitative Annular Dark-field STEM Images of a Silicon Crystal Using a Large-angle Convergent Electron Probe with a 300-kV Cold Field-emission Gun

著者

和文:	金秀鉉, 大島義文, 沢田英敬, 金山俊克, 近藤行人, 竹口雅樹, 中山佳子, 谷城康眞, 高柳邦夫.
英文:	S. Kim, Y. Oshima, H. Sawada, T. Kaneyama, Y. Kondo, M. Takeguchi, Yoshiko Nakayama, Y. Tanishiro, K. Takayanagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Electron Microsc.

巻, 号, ページ

Vol. 60 No. 2 pp. 109-116

出版年月

2011年1月19日

出版者

和文:
英文:	Oxford Journals

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI