球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析

論文・著書情報

タイトル

和文:	球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
英文:	Structural Analysis at an Atomic Scale Using Spherical Aberration Corrected Electron Microscope

著者

和文:	大島義文, 谷城康眞, 田中崇之, 高柳邦夫.
英文:	yoshifumi oshima, YASUMASA TANISHIRO, Takayuki TANAKA, kunio Takayanagi.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	日本結晶学会誌
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 54 No. 3 pp. 159-165

出版年月

2012年6月30日

出版者

和文:	日本結晶学会
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会議名称

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開催地

和文:
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