Charge noise characterization and reduction in Si/SiGe quantum devices

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Charge noise characterization and reduction in Si/SiGe quantum devices

著者

和文:	K. Takeda, 福岡佑二, T. Obata, J. Sailer, A. Wild, 小寺哲夫, K. Sawano, 小田俊理, D. Bougeard, G. Abstreiter, S. Tarucha, Y Shiraki.
英文:	K. Takeda, Y. Fukuoka, T. Obata, J. Sailer, A. Wild, T. Kodera, K. Sawano, S. Oda, D. Bougeard, G. Abstreiter, S. Tarucha, Y Shiraki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2012年8月2日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	31st International Conference on the Physics of Semiconductor (ICPS2012)

開催地

和文:
英文:	Zurich