Modeling of the Output Characteristics of Advanced N-MOSFETs After a Severe Gate-to-Channel Dielectric Breakdown

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Modeling of the Output Characteristics of Advanced N-MOSFETs After a Severe Gate-to-Channel Dielectric Breakdown

著者

和文:	Miranda Enrique, 川那子高暢, 角嶋邦之, J. Sune, 岩井洋.
英文:	Miranda Enrique, Takamasa Kawanago, Kuniyuki KAKUSHIMA, J. Sune, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2013年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Insulating Films on Semiconductors(INFOS 2013)

開催地

和文:
英文:	Cracow