Charge Trapping and Detrapping Characteristics CeO2/La2O3 Stack Gate Dielectrics

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Charge Trapping and Detrapping Characteristics CeO2/La2O3 Stack Gate Dielectrics

著者

和文:	B.L.Yang, H. Wong, S. Dong, 角嶋邦之, 岩井洋.
英文:	B.L.Yang, H. Wong, S. Dong, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2013年

出版者

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英文:

会議名称

和文:
英文:	7th International Conference on Materials, for Advanced Technologies(ICMAT2013)

開催地

和文:
英文: