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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Study of carrier transport in strained and unstrained SOI tri-gate and omega-gate silicon nanowire MOSFETs 
著者
和文: 小山将央, M. Casse, R. Coquand, S. Barraud, C. Vizioz, C. Comboroure, P. Perreau, V. Maffini-Alvaro, C. Tabone,, L. Tosti, S. Barnola, V. Delaye, F. Aussenac, G. Ghibaudo, 岩井洋, G. Reimbold.  
英文: 小山将央, M. Casse, R. Coquand, S. Barraud, C. Vizioz, C. Comboroure, P. Perreau, V. Maffini-Alvaro, C. Tabone,, L. Tosti, S. Barnola, V. Delaye, F. Aussenac, G. Ghibaudo, HIROSHI IWAI, G. Reimbold.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Solid-State Electronics 
巻, 号, ページ Vol. 84        pp. 46-52
出版年月 2013年6月 
出版者
和文: 
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会議名称
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英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.024

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