Correlation between intrinsic defects and electrical properties in the high-quality Cu<sub>2</sub>ZnSnS<sub>4</sub> single crystal

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Correlation between intrinsic defects and electrical properties in the high-quality Cu₂ZnSnS₄ single crystal

著者

和文:	A. Nagaoka, H. Miyake, 谷山智康, K. Kakimoto, K. Yoshino.
英文:	A. Nagaoka, H. Miyake, T. Taniyama, K. Kakimoto, K. Yoshino.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett.

巻, 号, ページ

vol. 103 No. 11 pp. 112107 1-4

出版年月

2013年9月13日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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