Examination of the ambient effects on the stability of amorphous indium-gallium-zinc oxide thin film transistors using a laser-glass-sealing technology

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Examination of the ambient effects on the stability of amorphous indium-gallium-zinc oxide thin film transistors using a laser-glass-sealing technology

著者

和文:	Kazuo Yamada, 野村研二, 安部勝美, 竹田聡, 細野秀雄.
英文:	Kazuo Yamada, Kenji Nomura, Katsumi Abe, Satoshi Takeda, Hideo Hosono.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett.

巻, 号, ページ

Vol. 105 p. 133503

出版年月

2014年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI