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論文・著書情報


タイトル
和文:EIS 法によるベントナイト中におけるオーバーパック材の腐食モニタリング 
英文: 
著者
和文: 石川博規, 多田英司, 西方篤, 谷口直樹, 立川博一.  
英文: Ishikawa Hiroki, Eiji Tada, ATSUSHI NISHIKATA, 谷口直樹, 立川博一.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電気化学会第82回講演要旨集 
英文: 
巻, 号, ページ         p. 3P21
出版年月 2015年3月15日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電気化学会第82回大会 
英文: 
開催地
和文:横浜 
英文: 

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