Detection of dead layers and defects in polycrystalline Cu2O thin-film transistors by x-ray reflectivity and photoresponse spectroscopy analyses

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Detection of dead layers and defects in polycrystalline Cu2O thin-film transistors by x-ray reflectivity and photoresponse spectroscopy analyses

著者

和文:	冉凡勇, 平松秀典, 細野秀雄, 神谷利夫, 谷口将隆.
英文:	Fan-Yong Ran, Hidenori Hiramatsu, Hideo Hosono, Toshio Kamiya, Masataka Taniguti.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Vac. Sci. Technol. B

巻, 号, ページ

Vol. 33 p. 051211

出版年月

2015年

出版者

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会議名称

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開催地

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英文: