Characterization of ion implantation quantum well intermixing for carrier confinement of VCSEL

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of ion implantation quantum well intermixing for carrier confinement of VCSEL

著者

和文:	森脇翔平, 齋藤季, 國貞彰吾, 宮本智之.
英文:	Shouhei Moriwaki, Minoru Saito, Syougo Kunisada, Tomoyuki Miyamoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2015年10月25日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	20th Microoptics Conference (MOC'15)

開催地

和文:
英文:	Fukuoka