Analysis of defects patterned by femtosecond pulses inside KBr and SiO2 glass

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of defects patterned by femtosecond pulses inside KBr and SiO2 glass

著者

和文:	X. W. Wang, R. Buividas, 船曳富士, P. R. Stoddart, 細野秀雄, S. Juodkazis.
英文:	X. W. Wang, R. Buividas, F. Funabiki, P. R. Stoddart, H. Hosono, S. Juodkazis.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. A

巻, 号, ページ

Vol. 122 p. 194

出版年月

2016年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文: