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論文・著書情報


タイトル
和文:Si-MOS構造を有する多重量子ドットデバイスの特性評価 
英文: 
著者
和文: 本田拓夢, 米田淳, 武田健太, 小寺哲夫, 樽茶清悟, 小田俊理.  
英文: Takumu Honda, 米田淳, Kenta Takeda, Tetsuo Kodera, Seigo Tarucha, SHUNRI ODA.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         p. 15a-1C-3
出版年月 2015年9月15日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第76回応用物理学会秋季学術講演会 
英文: 
開催地
和文:名古屋市 
英文: 

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