Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Radiation damage Analysis of High purity SiC by TEM 
著者
和文: Mohd Idzat bin Idris, 吉田 克己, 矢野 豊彦.  
英文: Mohd Idzat Idris, Katsumi Yoshida, Toyohiko Yano.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ     # 1H13   
出版年月 2016年3月26日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:日本原子力学会2016年春の年会 
英文:2016 Annual Meeting of the Atomic Energy Society of Japan 
開催地
和文:仙台 
英文:Sendai 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.