Scaling dependence of memory windows and different carrier charging behaviors in Si nanocrystal nonvolatile memory devices

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Scaling dependence of memory windows and different carrier charging behaviors in Si nanocrystal nonvolatile memory devices

著者

和文:	Jie Yu (于杰)1, Kun-ji Chen (陈坤基)1, 近藤洋平 07M36175, Zhong-yuan Ma (马忠元)1, Xin-xin Zhang (张鑫鑫)1, Xiao-fan Jiang (江小帆)1, Yang-qing Wu (吴仰晴)1, Xin-fan Huang (黄信凡)1, 小田俊理.
英文:	Jie Yu (于杰)1, Kun-ji Chen (陈坤基)1, 3, Zhong-yuan Ma (马忠元)1, Xin-xin Zhang (张鑫鑫)1, Xiao-fan Jiang (江小帆)1, Yang-qing Wu (吴仰晴)1, Xin-fan Huang (黄信凡)1, Shunri Oda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Chinese Physics B

巻, 号, ページ

Vol. 25 p. 097304-1-5

出版年月

2016年

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI