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論文・著書情報


タイトル
和文:Multilayer checkpoints for microRNA authenticity during RISC assembly 
英文:Multilayer checkpoints for microRNA authenticity during RISC assembly 
著者
和文: 川俣朋子, Yoda, Mayuko, Tomari, Yukihide.  
英文: Tomoko Kawamata, Yoda, Mayuko, Tomari, Yukihide.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:Embo Reports 
英文:Embo Reports 
巻, 号, ページ Vol. 12    No. 9    pp. 944-949
出版年月 2011年 
出版者
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会議名称
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開催地
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公式リンク http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000294476500017&KeyUID=WOS:000294476500017
 
DOI https://doi.org/10.1038/embor.2011.128

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