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論文・著書情報


タイトル
和文:光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命診断 
英文: 
著者
和文: 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.  
英文: Dai Taguchi, Takaaki Manaka, MITSUMASA IWAMOTO.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電気学会技術報告 
英文: 
巻, 号, ページ DEI-17-023        1-6
出版年月 2017年1月1日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電気学会 A部門研究会 誘電・絶縁材料研究会 次世代エレクトロニクスのための界面評価と制御技術 
英文: 
開催地
和文: 
英文:東京・市ヶ谷、電気学会 会議室 

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