English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
Measurement of photo-patterned surface potential of Alq3 thin films by Kelvin-force microscope together with near-field optical stimulation
英文:
Measurement of photo-patterned surface potential of Alq3 thin films by Kelvin-force microscope together with near-field optical stimulation
著者
和文:
K. Ozasa, S. Nemoto, T. Isoshirna, E. Ito, M. Maeda,
M. Hara
.
英文:
K. Ozasa, S. Nemoto, T. Isoshirna, E. Ito, M. Maeda,
M. Hara
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
Surface and Interface Analysis
英文:
Surface and Interface Analysis
巻, 号, ページ
Vol. 40 No. 3-4 pp. 810-813
出版年月
2008年1月
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
公式リンク
<Go to ISI>://WOS:000255486200153
DOI
https://doi.org/10.1002/sia.2669
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.