Observation of Interface Defects in Diamond Lateral p-n-Junction Diodes and Their Effect on Reverse Leakage Current

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Observation of Interface Defects in Diamond Lateral p-n-Junction Diodes and Their Effect on Reverse Leakage Current

著者

和文:	岩崎孝之, 諏訪泰介, 矢板潤也, Hiromitsu Kato, Toshiharu Makino, Masahiko Ogura, Daisuke Takeuchi, Satoshi Yamasaki, 波多野睦子.
英文:	Takayuki Iwasaki, Taisuke Suwa, Junya Yaita, Hiromitsu Kato, Toshiharu Makino, Masahiko Ogura, Daisuke Takeuchi, Satoshi Yamasaki, Mutsuko Hatano.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

巻, 号, ページ

Vol. 64 No. 8 pp. 3298-3302

出版年月

2017年7月6日

出版者

和文:
英文:

会議名称

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英文:

開催地

和文:
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DOI