Critical effect of nanometer-size surface roughness of a porous Si seed layer on the defect density of epitaxial Si films for solar cells by rapid vapor deposition.

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Critical effect of nanometer-size surface roughness of a porous Si seed layer on the defect density of epitaxial Si films for solar cells by rapid vapor deposition.

著者

和文:	長谷川馨, 高澤千明, 藤田誠, 野田優, 伊原学.
英文:	Kei Hasegawa, Chiaki Takazawa, Makoto Fujita, Suguru Noda, Manabu Ihara.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	CrystEngComm

巻, 号, ページ

Vol. 20 No. 13 Page 1774-1778

出版年月

2018年4月7日

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI