Preparation and Characterization of Sn-BSTS Topological Insulator for Universality Test of the Quantum Hall Effect

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Preparation and Characterization of Sn-BSTS Topological Insulator for Universality Test of the Quantum Hall Effect

著者

和文:	三澤哲郎, Y. Fukuyama, Y. Okazaki, S. Nakamura, 名坂成昭, 笹川崇男, N. Kaneko.
英文:	T. Misawa, Y. Fukuyama, Y. Okazaki, S. Nakamura, N. Nasaka, T. Sasagawa, N. Kaneko.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Trans. Instrum. Meas.

巻, 号, ページ

66 1489

出版年月

2017年6月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI