Process Damage Influence for Electrical Property of Diamond Schottky Barrier Diodes

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Process Damage Influence for Electrical Property of Diamond Schottky Barrier Diodes

著者

和文:	室岡拓也, K.Takizawa, Y.Kato, T.Makino, M.Ogura, H.Kato, R.Wada, S.Yamasaki, 岩崎孝之, H.Nohira, 波多野睦子.
英文:	T.Murooka, K.Takizawa, Y.Kato, T.Makino, M.Ogura, H.Kato, R.Wada, S.Yamasaki, T.Iwasaki, H.Nohira, M.Hatano.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2018年9月13日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2018International Conference on Solid State Devices and Materials

開催地

和文:
英文:	Tokyo