Fluctuation in Interface and Electronic Structure of Single-Molecule Junctions Investigated by Current versus Bias Voltage Characteristics

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Fluctuation in Interface and Electronic Structure of Single-Molecule Junctions Investigated by Current versus Bias Voltage Characteristics

著者

和文:	一色裕次, 藤井慎太郎, 西野智昭, 木口学.
英文:	Y. Isshiki, S. Fujii, T. Nishino, M. Kiguchi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Am. Chem. Soc.

巻, 号, ページ

140 3760-3767

出版年月

2018年2月22日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI