Individual Atomic Imaging of Multiple Dopant Sites in As-Doped Si Using Spectro-Photoelectron Holography

論文・著書情報

タイトル

和文:	Individual Atomic Imaging of Multiple Dopant Sites in As-Doped Si Using Spectro-Photoelectron Holography
英文:	Individual Atomic Imaging of Multiple Dopant Sites in As-Doped Si Using Spectro-Photoelectron Holography

著者

和文:	Tsutsui, K., Matsushita, T., Natori, K., Muro, T., Morikawa, Y., Hoshii, T., Kakushima, K., Wakabayashi, H., Hayashi, K., Matsui, F., Kinoshita, T., 星井拓也.
英文:	Tsutsui, K., Matsushita, T., Natori, K., Muro, T., Morikawa, Y., Hoshii, T., Kakushima, K., Wakabayashi, H., Hayashi, K., Matsui, F., Kinoshita, T., Takuya Hoshii.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	Nano Letters
英文:	Nano Letters

巻, 号, ページ

Vol. 17 No. 12 pp. 7533-7538

出版年月

2017年

出版者

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会議名称

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開催地

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