Research on Evaluation Technique of Patented Invention Using both Technical Value and Economic Value

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Research on Evaluation Technique of Patented Invention Using both Technical Value and Economic Value

著者

和文:	木村励, 田中義敏.
英文:	Tsutomu Kimura, Yoshitoshi Tanaka.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	PICMET 2010 TECHNOLOGY MANAGEMENT FOR GLOBAL ECONOMIC GROWTH

巻, 号, ページ

pp. 384-390

出版年月

2010年7月22日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Portland International Center for Management of Engineering and Technology (PICMET) 2010

開催地

和文:
英文:	Phuket

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