Polarisation analysing CMOS image sensor in 65-nm standard CMOS technology

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Polarisation analysing CMOS image sensor in 65-nm standard CMOS technology

著者

和文:	N. Wakama, D. Okabayashi, 野田俊彦, 笹川清隆, 德田崇, K. Kakiuchi, 太田淳.
英文:	N. Wakama, D. Okabayashi, T. Noda, K. Sasagawa, T. Tokuda, K. Kakiuchi, J. Ohta.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Engineering

巻, 号, ページ

出版年月

2013年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

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