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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Effect of increasing gate capacitance on the performance of a p-MoS2/HfS2 van der Waals heterostructure tunneling field-effect transistor
著者
和文:
張 文倫
,
祢津 誠晃
,
金澤 徹
,
雨宮 智宏
,
宮本 恭幸
.
英文:
W Zhang
,
S. Netsu
,
T. Kanazawa
,
T. Amemiya
,
Y. Miyamoto
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Jpn. J. Appl. Phys
巻, 号, ページ
58, SBBH02 (2019)
出版年月
2019年1月15日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.7567/1347-4065/aaf699
©2007
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