Trapped charge mapping in crystalline organic transistors by using scanning Kelvin probe force microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Trapped charge mapping in crystalline organic transistors by using scanning Kelvin probe force microscopy

著者

和文:	Ando, M., Heike, S., Kawasaki, M., 橋詰富博.
英文:	Ando, M., Heike, S., Kawasaki, M., tomihiro hashizume.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Physics Letters

巻, 号, ページ

Vol. 105 No. 19

出版年月

2014年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI