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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Progress and benchmarking of CMOS-device technologies 
著者
和文: 若林整.  
英文: Hitoshi Wakabayashi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:2014 International Conference on Electronics Packaging, ICEP 2014 
巻, 号, ページ         pp. 434-437
出版年月 2014年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.1109/ICEP.2014.6826721

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