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タイトル
和文:
Determination of the number of atoms present in nano contact based on shot noise measurements with highly stable nano-fabricated electrodes
英文:
Determination of the number of atoms present in nano contact baed on shot noise measuremsnts with highly stable nano fabricated electrodes
著者
和文:
高橋 諒士
,
金子 哲
,
S. Marques-Gonzalez
,
藤井 慎太郎
,
西野 智昭
, 塚越 一仁,
木口 学
.
英文:
R. Takahashi
,
S. Kaneko
,
S. Marques-Gonzalez
,
S. Fujii
,
T. Nishino
, K. Tsukagoshi,
M. Kiguchi
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
Nanotechnology
英文:
Nanotechnology
巻, 号, ページ
Vol. 27 No. 29 pp. 295203
出版年月
2016年6月
出版者
和文:
英文:
IOP Publishing
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
公式リンク
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000378308900006&KeyUID=WOS:000378308900006
http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27291763
DOI
https://doi.org/10.1088/0957-4484/27/29/295203
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.