English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Crystallization Behavior and Ferroelectric Property of HfO2-ZrO2 Films Fabricated by Chemical Solution Deposition
著者
和文:
S. Nakayama,
舟窪 浩
,
内田 寛
.
英文:
S. Nakayama,
H. Funakubo
,
H. Uchida
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2018年5月27日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
IFAAP 2018 (2018 ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference)
開催地
和文:
英文:
Hiroshima
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.