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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Contact resistance as an origin of the channel-length-dependent threshold voltage in organic field-effect transistors 
著者
和文: Weis, M., Lee, K., 田口大, 間中孝彰, 岩本光正.  
英文: Weis, M., Lee, K., Dai Taguchi, Takaaki Manaka, MITSUMASA IWAMOTO.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Japanese Journal of Applied Physics 
巻, 号, ページ Vol. 51    No. 10   
出版年月 2012年 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
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英文: 
DOI https://doi.org/10.1143/JJAP.51.100205

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