Nanometer-scale dielectric constant of Ge quantum dots using apertureless near-field scanning optical microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Nanometer-scale dielectric constant of Ge quantum dots using apertureless near-field scanning optical microscopy

著者

和文:	Ogawa, Y., 南不二雄, Abate, Y., Leone, S.R..
英文:	Ogawa, Y., FUJIO MINAMI, Abate, Y., Leone, S.R..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Applied Physics Letters

巻, 号, ページ

Vol. 96 No. 6 p. 063107

出版年月

2010年2月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI