Nanometer-scale mapping of dielectric constant of Ge/Si quantum dots by using apertureless near-field scanning optical microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Nanometer-scale mapping of dielectric constant of Ge/Si quantum dots by using apertureless near-field scanning optical microscopy

著者

和文:	Ogawa, Y., Nakajima, D., 南不二雄, Abate, Y., Leone, S.R..
英文:	Ogawa, Y., Nakajima, D., FUJIO MINAMI, Abate, Y., Leone, S.R..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	AIP Conference Proceedings

巻, 号, ページ

Vol. 1399 pp. 557-558

出版年月

2011年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文:

DOI