Structure and energetics of carbon defects in SiC (0001)/SiO2 systems at realistic temperatures: Defects in SiC, SiO2, and at their interface

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Structure and energetics of carbon defects in SiC (0001)/SiO2 systems at realistic temperatures: Defects in SiC, SiO2, and at their interface

著者

和文:	小林拓真, 松下雄一郎.
英文:	Takuma Kobayashi, Yu-ichiro Matsushita.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 126 No. 14 p. 145302

出版年月

2019年10月10日

出版者

和文:
英文:	AIP Publishing

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

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