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タイトル
和文:シリコンMOS量子ドット素子のゲート面積縮小化によるRF反射測定への影響 
英文: 
著者
和文: 西山 伸平, 加藤 公彦, 柳 永勛, 森 貴洋, 平山勝登, Sinan Bugu, 溝口 来成, 小寺哲夫.  
英文: Shimpei Nishiyama, 加藤 公彦, 柳 永勛, 森 貴洋, Masaru Hirayama, Sinan Bugu, Raisei Mizokuchi, Tetsuo Kodera.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2020年3月13日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第67回応用物理学会春季学術講演会 
英文: 
開催地
和文:東京 
英文: 

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