Structural and Luminescence Characteristics of Trench Defects in Red-emitting InGaN/GaN on Single-crystal GaN Substrate

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Structural and Luminescence Characteristics of Trench Defects in Red-emitting InGaN/GaN on Single-crystal GaN Substrate

著者

和文:	丹下貴志, 松方妙子, 三宮工.
英文:	Takashi Tange, Taeko Matsukata, Takumi Sannomiya.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2020年9月29日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2020 International Conference on Solid State Devices and Materials

開催地

和文:
英文:	ALL-VIRTUAL

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