Equivalent Circuit Analysis of RF Reflectometry of Physically Defined Quantum Dot Systems

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Equivalent Circuit Analysis of RF Reflectometry of Physically Defined Quantum Dot Systems

著者

和文:	溝口来成, 平山勝登, 西山伸平, K. Kato, Y. Liu, S. Murakami, T. Mori, 米田淳, 小寺哲夫.
英文:	R. Mizokuchi, M. Hirayama, S. Nishiyama, K. Kato, Y. Liu, S. Murakami, T. Mori, J. Yoneda, T. Kodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2021年11月4日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	24th International Conference on Electronic Properties of Two-Dimensional Systems/20th International Conference on Modulated Semiconductor Structures (EP2DS-24/MSS-20 Joint Conference)

開催地

和文:
英文:	Toyama