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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Radiation damage analysis in SiC microstructure by transmission electron microscopy 
著者
和文: Mohd Idzat bin Idris, 吉田 克己, 矢野 豊彦.  
英文: Mohd Idzat Idris, Katsumi Yoshida, Toyohiko Yano.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
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巻, 号, ページ Vol. 54    No. 3    pp. 991-996
出版年月 2022年3月 
出版者
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.1016/j.net.2021.09.015

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